دعوة لحضور مناقشة رسالة ماجستير للطالبة سهير جمال نوفل بعنوان "استخدام طريقة تحليل طيف رامان في تحديد خصائص الطبقات الرقيقة من السيليكون المتبلورة في الطور السائل للخلايا الشمسية الدعوة في المرفقات المرفقات: ppu-1549881540-Invitation_Suheir _Master.pdf